半導体デバイスの不良・故障解析技術
著者:二川清 / 上田修 / 山本秀和 出版社:日科技連出版社 ( 2019年12月19日頃 ) 価格:3,630円 ISBN13:9784817196859 | ||
はじめてのデバイス評価技術第2版
著者:二川清 出版社:森北出版 ( 2012年09月 ) 価格:2,640円 ISBN13:9784627774421 | ||
故障解析技術
著者:二川清 出版社:日科技連出版社 ( 2008年10月 ) 価格:3,080円 ISBN13:9784817192790 | ||
信頼性問題集
著者:二川清 出版社:日科技連出版社 ( 2009年12月 ) 価格:3,740円 ISBN13:9784817193339 | ||
LSIの信頼性
著者:二川清 / 塩野登 出版社:日科技連出版社 ( 2010年10月 ) 価格:3,300円 ISBN13:9784817193636 | ||
LSI故障解析技術新版
著者:二川清 出版社:日科技連出版社 ( 2011年09月 ) 価格:3,740円 ISBN13:9784817194145 | ||
信頼性七つ道具 応用編
著者:二川清 / 石田勉 / 鈴木和幸 / 原田文明 / 古園博幸 / 益田昭彦 出版社:日科技連出版社 ( 2020年08月21日頃 ) 価格:3,630円 ISBN13:9784817197184 | ||
デバイス・部品の故障解析
著者:二川清 出版社:日科技連出版社 ( 1992年09月 ) 価格:1,980円 ISBN13:9784817130273 | ||
はじめてのデバイス評価技術
著者:二川清 出版社:工業調査会 ( 2000年01月 ) 価格:2,200円 ISBN13:9784769311799 | ||
LSI故障解析技術のすべて
著者:二川清 出版社:工業調査会 ( 2007年11月 ) 価格:2,640円 ISBN13:9784769312697 |